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FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230比例接收器能實現計數率

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL230由于采用了FISCHER基本參數法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。