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FISCHERSCOPE X-RAY XDL-210 菲希爾X射線鍍層測厚儀是一款專為高精度、非破壞性鍍層厚度測量和材料成分分析而設(shè)計的臺式儀器，其典型應(yīng)用領(lǐng)域和設(shè)計理念如下：

一、典型應(yīng)用領(lǐng)域

大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件測量

適用于汽車、五金、衛(wèi)浴等行業(yè)中大批量電鍍零件的質(zhì)量控制，如鋅、鎳、鉻等多層鍍層的厚度檢測。

薄鍍層的精確測量

特別適合測量裝飾性鍍層（如裝飾鉻、金、銀等），即使鍍層厚度僅為幾納米也能實現(xiàn)高精度測量。

電子與半導體工業(yè)中的功能性鍍層分析

可用于測量PCB（印刷線路板）上的銅、錫、金、鈀等關(guān)鍵功能性鍍層，確保電氣性能和可靠性。

全自動測量任務(wù)

配合馬達驅(qū)動的X-Y平臺和激光定位系統(tǒng)，可實現(xiàn)對印刷線路板等復(fù)雜樣品的自動多點測量，提升效率與重復(fù)性。

電鍍?nèi)芤撼煞址治觯ㄩg接應(yīng)用）

雖然XDL-210主要用于固體樣品，但通過測量標準樣品或沉積層，可間接評估電鍍液中金屬離子濃度的變化趨勢，輔助工藝控制。