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泰勒霍普森粗糙度儀 Surtronic S-116 是一款高精度、便攜式表面粗糙度測量儀，專為工業(yè)現(xiàn)場和實驗室環(huán)境設計。該設備采用先進的傳感器技術，能夠快速、準確地測量Ra、Rz、Rq、Rt等20余種國際標準粗糙度參數(shù)，滿足ISO 4287、ISO 13565及ASME B46.1等規(guī)范要求。Surtronic S-116 配備3.5英寸彩色觸摸屏，操作界面直觀友好，支持多語言切換，便于全球用戶使用。其內(nèi)置大容量存儲可保存多達1000組測量數(shù)據(jù)，并可通過USB或藍牙接口輕松導出至PC或打印機。儀器采用可充電鋰電池供電，續(xù)航時間長達15小時，適合長時間現(xiàn)場作業(yè)。探頭采用高剛性設計，測量范圍達0.005–50 μm，垂直分辨率高達1 nm，確保在各種材質(zhì)（如金屬、塑料、陶瓷）表面均能獲得穩(wěn)定可靠的測量結果。Surtronic S-116 還具備自動校準功能和防塵防濺結構（IP54等級），適用于嚴苛的生產(chǎn)環(huán)境，是質(zhì)量控制、研發(fā)和維護工程師的理想選擇。